激光测厚仪是由上下两个对射的激光位移传感器组成,其基本测量原理如图所示:
图1中激光位移传感器1和激光位移传感器2以固定间距A相对布置,工作时激光位移传感器1发射一束激光照射被测物的下表面
,下表面光斑的漫反射光再通过透镜系统返回到激光移位传感器1内的CCD或CMOS芯片上,通过对CCD或CMOS芯片上光斑的位置分析
计算,可以得到激光位移创拿起1到被测物上下表面的实际距离B1;
同理,可以得到激光位移传感器2到被测物上表面的距离B2。用两个传感器之间的间距A减去两个传感器到被测物上下表面的
距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。
图2所示,位移传感器下方设置一个托板,用传感器测出托板与传感器的间距L0,当托板上方防止被检测物时,可用传感器测
得被测物与传感器的间距L1。
将L0和L1的新号传输到计算机内装的测量系统后,即可计算(L0-L1)得出被测物的厚度H。在实际应用中,L0的数值将直接写
入测量系统(系统还知道L0的校零功能),在被测物放置到托板上后即可得出被测物的厚度。
蓝鹏测控科技可以根据客户的需求提供任何解决办法,专业制定产品,欢迎您前来咨询。也可以给我在线留言询价,我看到
后会第一时间回复联系您。
欢迎QQ咨询:3028197726
电话:0312-5957682、15232200967
参考文章:测径仪 />
蓝鹏测控微信公众号:gh_7003a9192a4d、gh_fef8f9d9d5e3
Email: